Tecnai G2 F30场发射透射电镜HRTEM
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收费标准
机时0元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
Tecnai G2 F30 S-TWIN -
当前状态
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管理员
李玉青,林子夏,魏文娴 87979383-802，87979383-121，87979383-116，13665208093 -
放置地点
文汇路校区25号楼测试中心116
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
Tecnai G2 F30场发射透射电镜HRTEM
资产编号
00106750
型号
Tecnai G2 F30 S-TWIN
规格
300KV
产地
美国
厂家
美国FEI
所属品牌
FEI
出产日期
2009-05-09
购买日期
2009-05-09
所属单位
测试中心
使用性质
科研
所属分类
透射电镜
资产负责人
林子夏
联系电话
87979383-802，87979383-121，87979383-116，13665208093
联系邮箱
006283@yzu.edu.cn
放置地点
文汇路校区25号楼测试中心116
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
Tecnai F30场发射透射电镜主机，包括计算机工作站和单倾、低背景双倾等几种样品杆；数子化、一体化STEM透射扫描附件，包括HAADF探头；数子化、一体化EDX能谱仪系统，包括能谱频谱分析技术软件；数子化、一体化CCD相机；辅助设备包括冷却水机和空压机等。
Schottky 场发射灯丝
加速电压范围: 50kV~300kV
点分辨率: 0.20nm；线分辨率：0.10nm；信息分辨率：0.14nm
物镜球差系数Cs：1.2mm； 物镜色差系数Cc：1.4mm
聚焦长度：2.3mm；最小聚焦步长：0.3nm
最小束斑尺寸：0.3nm；最大会聚角：±12º
TEM放大倍数: 60×~1000,000×
选区衍射相机常数：35mm~2300mm
STEM放大倍数；50×~3000,000×（+8× zoom）
STEM图象分辨率：0.17 nm
样品台最大倾角：±40 º
样品台：计算机控制、全对中、侧插式5轴马达台（CompuStage）；x, y移动范围2mm；可存储和回复无数各维或5维位置，回复精度≤ 300nm，样品漂移≤ 1nm/min
样品真空度≤ 2.7×10-5Pa
EDX分析元素范围：铍Be~铀U92
能谱仪探头分辨率：≤ 138 ev; 峰背比20000:1
Schottky 场发射灯丝
加速电压范围: 50kV~300kV
点分辨率: 0.20nm；线分辨率：0.10nm；信息分辨率：0.14nm
物镜球差系数Cs：1.2mm； 物镜色差系数Cc：1.4mm
聚焦长度：2.3mm；最小聚焦步长：0.3nm
最小束斑尺寸：0.3nm；最大会聚角：±12º
TEM放大倍数: 60×~1000,000×
选区衍射相机常数：35mm~2300mm
STEM放大倍数；50×~3000,000×（+8× zoom）
STEM图象分辨率：0.17 nm
样品台最大倾角：±40 º
样品台：计算机控制、全对中、侧插式5轴马达台（CompuStage）；x, y移动范围2mm；可存储和回复无数各维或5维位置，回复精度≤ 300nm，样品漂移≤ 1nm/min
样品真空度≤ 2.7×10-5Pa
EDX分析元素范围：铍Be~铀U92
能谱仪探头分辨率：≤ 138 ev; 峰背比20000:1
主要功能及特色
广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等内部超微结构图像观察，图像分析、处理。
样本检测注意事项
1.固体粉末或分散在溶剂中的样品（注：强磁性超微粉末损伤仪器）
2.固体粉末或分散在溶剂中的样品。
3.固体块状样品需提前到中心进行预处理。
2.固体粉末或分散在溶剂中的样品。
3.固体块状样品需提前到中心进行预处理。
设备使用相关说明
送样后由专职测试老师根据样品要求进行测试。
检测项目
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公告
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